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纠缠的光粒子可用于改善成像和测量方法。 位于耶拿的弗劳恩霍夫应用光学和精密机械研究所（IOF）的一组研究人员发明了一种量子成像解决方案，该解决方案可以对极端光谱范围内且光较少的组织样本进行精确分析。

 

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